热场发射扫描电子显微镜(SEM)

用于样品微观结构和形貌分析,分辨率达0.8nm,放大倍数1000000X,还可进行微区成分(B5-U92)定性、半定量分析,检测范围0.1%-100%

联系我们

服务热线:+86-758-6923565
地址:广东省肇庆市风华路18号风华电子工业城
Copyright © 广东风华高新科技股份有限公司. All rights Reserved.
粤ICP备05059253号 Powered By Vancheer